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无锡AIS50X Seires 双面检测

设备原理:

通过上下两个高精度相机,对同一块板卡移动拍照,采取卷积神经网络算法处理图像,智能判定元器件不良和焊锡不良。

检测T/B双面错漏反及焊锡等缺陷。


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